1.SiCの採用で、低消費電力化・小型化に貢献
・SiCを用いることでSi(シリコン)と比べてスイッチング損失を大幅に削減し、電力損失を約21%低減※3
・高速スイッチングが可能となり、リアクトルなど周辺部品の小型化に貢献
2.JBS構造の採用により、高信頼性に寄与
・pn接合とショットキー接合を組み合わせたJBS※4構造を採用
・JBS構造により高サージ耐量を実現することで、高信頼性に寄与
3.さまざまな用途に対応する5製品をラインアップ
・一般的なTO-247パッケージに加え、絶縁距離を拡大したTO-247-2パッケージの採用により民生品をはじめ産業などのさまざまな用途に対応
・AEC-Q101※5に準拠した製品(BD20120SJ)もラインアップし、車載用途にも対応
※1 Silicon Carbide:炭化ケイ素
※2 Schottky Barrier Diode:半導体と金属の接合部に生じるショットキー障壁を利用したダイオード
※3 PFC回路を内蔵した当社製パワー半導体モジュール「DIPPFCTM」に搭載のSiダイオードとの比較
※4 Junction Barrier Schottky
※5 Automotive Electronics Council:車載電子部品の品質規格