東芝：半導体テスターのテスト時間短縮に貢献するターンオン時間の高速化を実現した小型フォトリレー発売について
川崎--(BUSINESS WIRE)--（ビジネスワイヤ） --東芝デバイス＆ストレージ株式会社は、半導体テスター向けにターンオン時間を当社既存製品[注1]より高速にしたS-VSON4T[注2]パッケージのフォトリレー「TLP3414S」と「TLP3431S」を製品化しました。新製品の阻止電圧定格とオン電流定格は、TLP3414Sが40V/250mA、TLP3431Sが20V/450mAです。本日から出荷を開始します。
新製品は、入力側の赤外発光ダイオードの光出力向上と、受光素子 (フォトダイオードアレイ) の最適化設計により、光結合効率を高めました。これにより、ターンオン時間を最大150μsに短縮し、高速化を実現しました。TLP3414Sは当社既存製品TLP3414と比べて最大ターンオン時間を約50％、TLP3431Sは当社既存製品TLP3431と比べて約62％短縮しています。
また、出力オン時の信号減衰に影響するオン抵抗 (TLP3414S : 最大値3Ω、TLP3431S : 最大値1.2Ω) と、出力オフ時の高周波信号漏れに影響する端子間容量 (出力側) (TLP3414S、TLP3431Sともに標準値6.5pF) は当社既存製品[注1]と同等で、安定した信号伝達が可能です。
新製品は、テスト対象デバイス (DUT[注3]) を高速に信号切替えしながら精度よく計測する、半導体テスターのピンエレクトロニクス[注4]などに適しています。
パッケージは、小型のS-VSON4Tを採用し、当社既存製品のVSON4パッケージ[注5]と比べて、実装面積を約20%削減しています。これにより、半導体テスターなどの小型化に貢献します。
今後も当社は、半導体テスターの高性能化・高速化に対応した製品を提供していきます。
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応用機器
半導体テスター (高速メモリーテスター、高速ロジックテスターなど)
プローブカード
計測機器
新製品の主な特長
高速ターンオン時間 : tON=150μs (max)
低オン抵抗
TLP3414S RON=3Ω (max)
TLP3431S RON=1.2Ω (max)
小型S-VSON4Tパッケージ : 1.45×2.0mm (typ.)、t=1.3mm (typ.)
新製品の主な仕様
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