統合システムに搭載されているPark AFMは、半導体関連デバイス、製造業のインライン品質保証、研究開発のために業界をリードする自動化原子間力顕微鏡 Park NX-Waferをベースにしています。AFM/WLIシステムを組み合わせることで、WLIモジュールによる大面積のハイスループットイメージングと、AFMによるサブオングストロームの高さ分解能でのナノスケール計測が可能になります。高分解能AFMレビューのための欠陥部位の高速なローカリゼーションによって可能になった高速の「ホットスポット検出」を用いることで、基準サンプルとターゲットサンプル領域の画像を比較し、パターン構造の欠陥を検出することができます。
Park WLIモジュールは、白色光干渉計(WLI)と位相シフト干渉法(PSI)の両モードに対応しています。 PSIモードは、電動式リニア対物レンズチェンジャーで2枚本の対物レンズを自動的に交換することが可能で、2.5倍、10倍、20倍、50倍の対物レンズ倍率に対応しており、100倍のCMOSカメラを搭載しています。
Park NX-Hybrid WLIは、2つの補完的な技術を融合させた総合的な自動計測システムであり、2つのシステムを別々に使用するよりも大幅にコストを削減できます。