2016年 9月 21日
不良セクタの予測および、外付けケースの耐久性等を調査対象とした不良セクタシミュレーションの改良版を、2016年9月20日にリリースいたしました自動データ復旧機能 FromHDDtoSSD Build：2820（ベータ版）より搭載いたしました。
ある程度のセクタを部分調査いたしまして、全体の予測を行う点を主に改良していきましたが、今回は「全セクタ」を調査する部分を改良いたしました。
この今回の改良は、ドライブ側の不良セクタに関する予測を目的とするものではなく、ドライブを接続する「外付けケース」に関する調査のための機能・改良となります。
大事なデータを扱いますので、最重要な点は耐久性と考えております。
こちらでも色々と調査しておりますが、数十テラバイトを越えたあたりから、明らかにデータの出し入れ（ディスクIO）がおかしくなる外付けケースを結構拝見いたしました。
※ 同じ型番でもばらつきがありまして、いわゆる「当たり」「はずれ」が存在いたします。
なお、あくまでもこれはケースの検査で、そこに接続されるドライブには負荷が大きめの調査となりますので、不要となりました１～３テラバイトあたりのハードディスクが便利です。
それを調査対象のケースに接続いたしまして、じっくりと３週程度全セクタ（全セクタを回すため解析ゲージOFF）回していき、３週とも全てグリーンになれば、特に問題ないという判断になります。
不良セクタシミュレーション：
https://www.iuec.co.jp/fromhddtossd2s/badsim.html
※ 解析ゲージを切りまして、連続して読み出す検査を実施いたします。
ＩＵＥＣデータソリューションセンターについて：
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