近年、家電製品などの電子回路基板の実装工程における鉛フリー化の普及に伴い、はんだ材料が多様化している。鉛フリーはんだ材料の多くは錫を主成分とした銀、銅などの合金だが、銀は高価で価格変動も大きいため、低銀化(銀の含有量を減らす)し、低コスト化することが課題となっている。しかし、低銀化によってはんだ溶融温度が変動するため、実際に使用するリフロー工程ごとに基板と部品のはんだ接続状態を確認する必要があり、製造現場の大きな負担となっている。
OEGは、鉛フリー実装評価技術の日本工業規格(JIS)「QFPリードのはんだ継手45度プル試験方法」および「チップ部品のはんだ継手せん断試験方法」制定に関与するなど、実装評価の知見が豊富で、多数の顧客に試験を提案、実施してきた。また、最近では電子部品の極微小化により接続強度測定が困難になっているが、OEGでは再現性よく測定できる方法を確立している。顧客は、OEGの試験サービスを利用することにより、効率よく各種試験を実施し、適切な判断をすることができる。今後も、さらに試験技術の向上や設備の充実を図り、環境試験・評価の対応範囲を拡大し、顧客の製品の開発・製造・販売を支援していく。
なお、OEGは2019年1月16日~18日、東京ビッグサイトにて開催される「オートモーティブ ワールド2019」(小間番号:E50-28)に出展し、本サービスについて紹介する。