METROTOM 800 320 kV
● 高密度の複雑な部品の高解像度スキャン
● 厳格な検査・測定要件を満たす高速スキャン
● 多用途向けCTで難易度の高いスキャンでも柔軟性・生産性を向上
■スキャン時間の短縮と生産性の向上
強力な320 kVのX線源と高度なシステム設計により、ZEISS METROTOM 800 320 kVは他のMETROTOMシステムと比較し、スキャン時間を最大で75％短縮します。これにより、早く結果が得られ、処理量が増加し、運用コストの低減を実現できます。クールダウンなく、X線管の運転を継続させ、さらに生産性を高め、ダウンタイムを最小化します。
■信頼される品質保証のための最高精度
高い管電圧(320 kV、500 W)と最小焦点サイズ7 μmの組み合わせにより、優れた画像品質と信頼できる測定精度を実現します。厳格な測定基準(VDI/VDE 2630 1.3規格、JIS B 7440-11規格)を満たす、正確で信頼性の高い品質保証のベネフィットを享受いただけます。このシステムは、特に医療技術、電子機器、航空宇宙、電動モビリティ分野で顕著な競争優位性を提供します。
■多様な用途に対応する最大の柔軟性
ZEISS METROTOM 800 320 kVは、それぞれ最大で、高さ470 mm、直径500 mm、重量50 kgの部品の検査に最適です。用途は以下を含みます。
● 複雑な電子組立品の信頼性の高い品質管理
● コバルトクロムまたはチタン製の医療用インプラントの正確な測定
● 金属部品の積層造形の分析 (例：インコネル)
● バッテリースタックやステータなど電気自動車の重要部品の検査
■操作の容易さが時間とリソースを節約
直感的なソフトウェアZEISS INSPECT X-Rayは、データ取得、評価、分析を1つのアプリケーションで統合します。これにより、導入プロセスが簡素化され、必要なトレーニングが大幅に削減されます。さらに、ZEISS Automated Defect Detection (ZADD)モジュールは、AIを用いて重要な欠陥を自動検出し、効率を高め、オペレーターの負担を最小化します。
画像1: https://www.atpress.ne.jp/releases/628673/LL_img_628673_1.jpg
METROTOM 800 320 kV
カールツァイス株式会社工業用測定機器部門では、9/2(水)～4(金)に幕張メッセ国際展示場で開催されるJASIS 2026に出展し、ブースにてMETROTOM 800 320 kVに適した様々なアプリケーションやソリューションをご紹介いたします。
また、2027年1月に正式オープンを予定している、Quality Excellence Center Osaka (略称：QEC Osaka)において、METROTOM 800 320 kVの実機を日本のお客様向けに導入し、同所で実施されるデモンストレーションやイベントでのご紹介を予定しております。
METROTOM 800 320 kV製品ページ
https://www.zeiss.co.jp/metrology/systems/x-ray/3d-x-ray/metrotom-800-320-kv.html
■ZEISSについて
ZEISSは、1846年にドイツで創業した光学技術を基盤に多角的な事業を展開する国際的なリーディングカンパニーです。日本には1911年に設立したカールツァイス株式会社、カールツァイスメディテック株式会社、カールツァイスビジョンジャパン株式会社の3つの法人があります。4つのセグメント(半導体製造技術、産業品質・研究、医療技術、消費者市場)で事業を展開し、売上高約120億ユーロのグローバル企業です。工業計測、品質保証、ライフサイエンス、材料研究、眼科、マイクロサージェリーなど、様々な分野で革新的なソリューションを提供しており、世界中で高い評価を得ています。
ZEISSは、イノベーションを成長の原動力と位置づけ、売上高の15％を研究開発に投資しており、約46,600人の従業員、40の研究開発施設、約30の生産拠点、約60の販売・サービス会社を擁し、約50カ国で事業を展開しています。また、オーナーであるカールツァイス財団は、科学の振興を目的とするドイツ最大級の財団です。
■カールツァイス株式会社 工業用測定機器部門について
インダストリアルクオリティソリューションズは、工業用測定機を開発・製造・販売する事業部門です。自動車、医療、エネルギー、エレクトロニクス、機械、航空宇宙関連の製造業向けに、三次元測定機、X線CT測定システム、光学式測定機、AI技術を活用したソフトウェアなど、幅広いソリューションを提供しています。
https://www.zeiss.co.jp/metrology
