半導体用透過型電子顕微鏡（TEM）の世界市場2026年、グローバル市場規模（半導体用自動化型透過・走査透過電子顕微鏡、収差補正型原子分解能装置、汎用分析型電界放出装置）・分析レポートを発表
Dream News 2026年10月07日 10:00:00
株式会社マーケットリサーチセンター
株式会社マーケットリサーチセンター（本社：東京都港区、世界の市場調査資料販売）では、「半導体用透過型電子顕微鏡（TEM）の世界市場2026年」調査資料を発表しました。資料には、半導体用透過型電子顕微鏡（TEM）のグローバル市場規模、動向、予測、関連企業の情報などが盛り込まれています。
■主な掲載内容
________________________________________
市場概要
世界の半導体用透過型電子顕微鏡（TEM）市場は、2025年に5億4,300万米ドル規模となり、2032年には11億4,900万米ドルへ拡大すると予測されています。予測期間中の年平均成長率は10.5％です。
半導体用透過型電子顕微鏡（TEM）は、半導体ウエハー、チップ、デバイス、パッケージ構造、関連材料の研究開発、工程開発、基準計測、歩留まり改善、故障解析、信頼性評価などに使用される高性能電子顕微鏡です。
高エネルギー電子線を、集束イオンビーム加工や機械研磨などで作製した電子透過可能な薄片試料へ照射し、透過電子、散乱電子、回折電子、特性Ｘ線、電子エネルギー損失信号などを取得します。これにより、内部構造、結晶格子、界面、欠陥、ひずみ、結晶方位、元素組成などを原子レベルに近い分解能で解析できます。
________________________________________
製品構成と市場特性
製品は、半導体専用自動化型透過・走査透過電子顕微鏡、収差補正型原子分解能装置、汎用分析型電界放出装置、従来型または小型低加速電圧装置などに分類されます。
半導体専用自動化装置では、試料搬送、位置決め、観察条件設定、画像取得、元素分析、寸法計測などの自動化が進んでいます。高性能装置では、原子レベルでの界面解析、格子欠陥評価、元素分布、ひずみ解析、3次元構造解析などにも対応します。
一方、市場は装置価格が非常に高く、技術的参入障壁も大きいことが特徴です。顧客認定にも長い期間を要し、製品性能だけでなく、半導体工程向け自動化、試料追跡、標準化された計測手順、保守サービス、既存工程との統合性が重要になります。
________________________________________
競争環境
2025年の売上高構成では、Thermo Fisher Scientificが86.17％を占め、Hitachi High-Techが7.16％、JEOLが4.25％、TESCANが1.74％となっています。上位3社の合計シェアは97.58％に達しており、非常に集中度の高い市場です。
Thermo Fisher Scientificは、集束イオンビームによる試料作製、自動試料搬送、透過型電子顕微鏡計測、データ解析までを統合した工程を強みとしています。
Hitachi High-TechとJEOLは、高性能電子光学技術や科学計測装置分野に長い実績を持っています。TESCANは、4次元走査透過電子顕微鏡技術や複合分析機能を通じて、半導体工程開発や故障解析分野への参入を進めています。
________________________________________
市場の成長要因
市場拡大を支える最大の要因は、先端半導体構造の複雑化です。ゲート全周型トランジスタ、3次元不揮発性メモリ、高帯域幅メモリ、チップレット、ハイブリッド接合などの普及により、従来の表面観察だけでは確認できない内部構造や界面の高精度解析が必要になっています。
特に先端ロジック半導体では、チャネル形状、ゲート絶縁膜、エピタキシャル層、界面構造、結晶欠陥などを原子レベルで確認する必要があります。メモリ分野でも、積層構造、結晶粒、接合界面、欠陥位置の解析が重要です。
このため、透過型電子顕微鏡は研究用途だけでなく、量産工程における基準計測や歩留まり改善のための解析装置として重要性を高めています。
________________________________________
市場の課題
市場拡大の制約として、装置価格の高さ、専用施設の必要性、操作の複雑さ、試料作製工程の難しさなどがあります。
透過観察には非常に薄い試料を作製する必要があり、解析できる範囲も限定的です。また、装置運用には熟練技術者が必要であり、取得データの解釈にも高度な専門知識が求められます。
そのため、半導体用透過型電子顕微鏡（TEM）は、走査型電子顕微鏡、光学計測装置、ウエハー欠陥検査装置を置き換えるものではなく、異常箇所の断面確認や根本原因解析を行う高分解能の基準装置として使用されます。
________________________________________
技術開発動向
今後の技術開発では、完全自動化、計測装置としての再現性向上、複数分析技術の統合、低電子線量観察、人工知能を活用したデータ解析が重要になります。
試料作製、試料搬送、観察位置認識、自動焦点合わせ、収差補正、元素分析、寸法測定までを連続的に自動化する方向が進んでいます。
人工知能や機械学習は、観察位置の自動検出、撮像条件の最適化、界面・欠陥認識、寸法測定の再現性向上などに活用される見込みです。また、4次元走査透過電子顕微鏡、電子線歳差、元素分析、電子エネルギー損失分析、電子線トモグラフィー、ひずみ解析なども、研究用途から工程開発へと利用範囲が広がると考えられます。
________________________________________
用途別市場動向
主な用途には、先端ロジック半導体および受託製造向け研究開発・基準計測、メモリ研究開発・歩留まり改善、故障解析・信頼性評価、先端パッケージ・接続構造解析、化合物半導体、電力半導体、光電子デバイス、微小電気機械装置などがあります。
特に人工知能向け演算半導体、2ナノメートル以下の先端ロジック、高帯域幅メモリ、3次元不揮発性メモリ、チップレット、ハイブリッド接合、炭化ケイ素・窒化ガリウム半導体の拡大が今後の需要を支えると見込まれます。
________________________________________
市場展望
主要企業には、Thermo Fisher Scientific、Hitachi High-Tech、JEOL、TESCAN、Delong Instruments、Suzhou BOZHON lnstruments Technologyなどがあります。
今後は、単純な高分解能性能だけではなく、自動試料作製、試料追跡、計測再現性、人工知能解析、複数分析技術の統合、半導体工場とのデータ連携、長期保守サービスなどが競争力を左右します。
先端半導体の微細化と3次元化が進むほど、内部構造を直接観察できる高分解能解析の重要性は高まります。そのため、半導体用透過型電子顕微鏡（TEM）は、研究装置から工程改善・量産支援を担う基準計測装置へと役割を広げながら、今後も高い成長を維持すると考えられます。
________________________________________
目次
1. 市場概要
・1.1 製品概要と調査範囲
・1.2 市場推計上の留意事項と基準年
・1.3 製品ポジショニング別市場分析
・1.3.1 2021年・2025年・2032年の世界消費額比較
・1.3.2 半導体専用自動走査・透過型電子顕微鏡装置
・1.3.3 収差補正原子分解能透過・走査透過型電子顕微鏡装置
・1.3.4 汎用分析用電界放出型透過・走査透過型電子顕微鏡装置
・1.3.5 従来型・小型低加速電圧透過型電子顕微鏡装置
・1.4 定格加速電圧別市場分析
・1.4.1 低加速電圧透過・走査透過型電子顕微鏡
・1.4.2 200キロボルト級透過・走査透過型電子顕微鏡
・1.4.3 300キロボルト級透過・走査透過型電子顕微鏡
・1.4.4 特殊超高加速電圧透過型電子顕微鏡
・1.5 用途別市場分析
・1.5.1 先端ロジック・ファウンドリーの研究開発および基準計測
・1.5.2 メモリー研究開発・歩留まり改善
・1.5.3 故障解析・信頼性評価
・1.5.4 先端パッケージ・相互接続解析
・1.5.5 化合物半導体、パワーデバイス、光電子、微小電気機械装置
・1.6 世界市場規模・予測：消費額、販売数量、平均価格（2021～2032年）
________________________________________
2. メーカー概要
・2.1 Thermo Fisher Scientific (FEI)：企業概要、主要事業、製品・サービス、販売数量、平均価格、売上高、粗利益率、市場シェア、最新動向
・2.2 Hitachi High-Tech：企業概要、主要事業、製品・サービス、販売実績、最新動向
・2.3 JEOL：企業概要、主要事業、製品・サービス、販売実績、最新動向
・2.4 TESCAN：企業概要、主要事業、製品・サービス、販売実績、最新動向
・2.5 Delong Instruments：企業概要、主要事業、製品・サービス、販売実績、最新動向
・2.6 Suzhou BOZHON lnstruments Technology：企業概要、主要事業、製品・サービス、販売実績、最新動向
________________________________________
3. メーカー別競争環境
・3.1 メーカー別世界販売数量（2021～2026年）
・3.2 メーカー別世界売上高（2021～2026年）
・3.3 メーカー別世界平均価格（2021～2026年）
・3.4 2025年市場シェア分析
・3.4.1 メーカー別売上高および市場シェア
・3.4.2 上位3社の市場シェア
・3.4.3 上位6社の市場シェア
・3.5 企業展開状況分析：地域別、製品種類別、用途別
・3.6 新規参入企業と市場参入障壁
・3.7 合併、買収、契約、協業
________________________________________
4. 地域別消費分析
・4.1 地域別世界市場規模
・4.1.1 地域別販売数量（2021～2032年）
・4.1.2 地域別消費額（2021～2032年）
・4.1.3 地域別平均価格（2021～2032年）
・4.2 北米の消費額
・4.3 欧州の消費額
・4.4 アジア太平洋の消費額
・4.5 南米の消費額
・4.6 中東・アフリカの消費額
________________________________________
5. 製品ポジショニング別市場
・5.1 製品ポジショニング別世界販売数量（2021～2032年）
・5.2 製品ポジショニング別世界消費額（2021～2032年）
・5.3 製品ポジショニング別世界平均価格（2021～2032年）
________________________________________
6. 用途別市場
・6.1 用途別世界販売数量（2021～2032年）
・6.2 用途別世界消費額（2021～2032年）
・6.3 用途別世界平均価格（2021～2032年）
________________________________________
7. 北米市場
・7.1 製品ポジショニング別販売数量
・7.2 用途別販売数量
・7.3 国別市場規模、販売数量、消費額
・7.3.1 米国の市場規模・予測（2021～2032年）
・7.3.2 カナダの市場規模・予測（2021～2032年）
・7.3.3 メキシコの市場規模・予測（2021～2032年）
________________________________________
8. 欧州市場
・8.1 製品ポジショニング別販売数量
・8.2 用途別販売数量
・8.3 国別市場規模、販売数量、消費額
・8.3.1 ドイツの市場規模・予測（2021～2032年）
・8.3.2 フランスの市場規模・予測（2021～2032年）
・8.3.3 英国の市場規模・予測（2021～2032年）
・8.3.4 ロシアの市場規模・予測（2021～2032年）
・8.3.5 イタリアの市場規模・予測（2021～2032年）
________________________________________
9. アジア太平洋市場
・9.1 製品ポジショニング別販売数量
・9.2 用途別販売数量
・9.3 地域別市場規模、販売数量、消費額
・9.3.1 中国の市場規模・予測（2021～2032年）
・9.3.2 日本の市場規模・予測（2021～2032年）
・9.3.3 韓国の市場規模・予測（2021～2032年）
・9.3.4 インドの市場規模・予測（2021～2032年）
・9.3.5 東南アジアの市場規模・予測（2021～2032年）
・9.3.6 オーストラリアの市場規模・予測（2021～2032年）
________________________________________
10. 南米市場
・10.1 製品ポジショニング別販売数量
・10.2 用途別販売数量
・10.3 国別市場規模、販売数量、消費額
・10.3.1 ブラジルの市場規模・予測（2021～2032年）
・10.3.2 アルゼンチンの市場規模・予測（2021～2032年）
________________________________________
11. 中東・アフリカ市場
・11.1 製品ポジショニング別販売数量
・11.2 用途別販売数量
・11.3 国別市場規模、販売数量、消費額
・11.3.1 トルコの市場規模・予測（2021～2032年）
・11.3.2 エジプトの市場規模・予測（2021～2032年）
・11.3.3 サウジアラビアの市場規模・予測（2021～2032年）
・11.3.4 南アフリカの市場規模・予測（2021～2032年）
________________________________________
12. 市場動向
・12.1 半導体用透過型電子顕微鏡市場の成長要因
・12.2 市場の抑制要因
・12.3 市場動向分析
・12.4 5つの競争要因分析
・12.4.1 新規参入の脅威
・12.4.2 供給者の交渉力
・12.4.3 購買者の交渉力
・12.4.4 代替品の脅威
・12.4.5 既存企業間の競争
________________________________________
13. 原材料・産業チェーン
・13.1 半導体用透過型電子顕微鏡の原材料と主要メーカー
・13.2 製造コスト構成比
・13.3 製造工程
・13.4 産業価値連鎖分析
________________________________________
14. 流通経路別出荷
・14.1 販売経路
・14.1.1 最終需要者への直接販売
・14.1.2 販売代理店経由
・14.2 主要販売代理店
・14.3 主要顧客
________________________________________
15. 調査結果・結論
・15.1 市場調査から得られた主要結果
・15.2 世界市場に関する総合的な結論
________________________________________
16. 付録
・16.1 調査手法
・16.2 調査工程とデータ情報源
・16.3 免責事項
________________________________________
【半導体用透過型電子顕微鏡について】
半導体用透過型電子顕微鏡とは、薄く加工した半導体試料に電子線を透過させ、内部構造や結晶状態、材料組成などをナノメートル以下の高い分解能で観察する装置です。半導体の微細化や三次元化が進む中、一般的な顕微鏡では確認が難しい微細構造や界面、欠陥を詳細に解析するために使用されます。
主な特徴は、非常に高い空間分解能を持ち、トランジスタ構造、絶縁膜、配線層、コンタクト、結晶欠陥などを詳細に観察できる点です。また、電子回折による結晶構造解析や、EDS、EELSなどを組み合わせた元素分析・化学状態分析も可能です。これにより、形状観察だけでなく材料特性まで総合的に評価できます。
種類には、一般的なTEM、走査透過型電子顕微鏡（STEM）、高分解能TEM、分析TEMなどがあります。STEMは細く絞った電子線を試料上で走査し、材料や元素の違いを高いコントラストで観察する方式です。高分解能TEMは結晶格子や界面の観察に適しており、分析TEMは元素分布や化学状態の解析に利用されます。
用途としては、ロジック半導体、DRAM、NANDフラッシュ、パワー半導体、先端パッケージなどの研究開発、工程評価、故障解析、歩留まり改善があります。FinFET、GAA、3D NAND、多層配線などの微細構造評価にも重要であり、先端半導体の品質向上や製造プロセス最適化を支える重要な分析装置です。
■レポートの詳細内容はこちら
https://www.marketresearch.co.jp/mrc/global-semiconductor-tem-market-2026/
■レポートに関するお問い合わせ・お申込みはこちら
https://www.marketresearch.co.jp/contacts/
■株式会社マーケットリサーチセンターについて
https://www.marketresearch.jp/
主な事業内容：市場調査レポ－トの作成・販売、市場調査サ－ビス提供
本社住所：〒105－0004 東京都港区新橋1－18－21
TEL：03－6161－6097 FAX：03－6869－4797
マ－ケティング担当marketing@marketresearch.co.jp
【画像 https://www.dreamnews.jp/press/364399/images/bodyimage1】
配信元企業：株式会社マーケットリサーチセンター
プレスリリース詳細へ
ドリームニューストップへ
情報提供元： Dream News